IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Titolo: |
IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
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| Pubblicazione: | Piscataway, NJ : , : IEEE, , 1990 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Disciplina: | 729 |
| Soggetto topico: | Architectural design - History |
| Altri titoli varianti: | IEEE Std 1149.1-1990: IEEE Standard Test Access Port and Boundary - Scan Architecture |
| Titolo autorizzato: | IEEE Standard Test Access Port and Boundary |
| ISBN: | 1-55937-350-4 |
| 0-7381-0959-2 | |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910135413803321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |