Optical Characterization of Thin Solid Films / Olaf Stenzel, Miloslav Ohlídal editors
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| Titolo: |
Optical Characterization of Thin Solid Films / Olaf Stenzel, Miloslav Ohlídal editors
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2018 |
| Titolo uniforme: | Optical Characterization of Thin Solid Films |
| Descrizione fisica: | xxiv, 462 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 74-XX - Mechanics of deformable solids [MSC 2020] |
| 74K35 - Thin films [MSC 2020] | |
| 74A50 - Structured surfaces and interfaces, coexistent phases [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Interface Spectroscopy |
| Optical Coating Characterization | |
| Optical Constants | |
| Optical Properties of Thin Solid Films | |
| Solid State Spectroscopy | |
| Spectroscopic Imaging Spectrophotometry | |
| Persona (resp. second.): | Ohlídal, Miloslav |
| Stenzel, Olaf | |
| Titolo autorizzato: | Optical Characterization of Thin Solid Films |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0211521 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-319-75325-6 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer Series in Surface Sciences Berlin [etc.] . -Springer ; 64