Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor
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| Titolo: |
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2019 |
| Descrizione fisica: | XX, 408 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 621.36(Ingegneria ottica. Ottica applicata) |
| 543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica) | |
| 530(Fisica) | |
| 502.82(Microscopia) | |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| 621.381(Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare) | |
| Persona (resp. second.): | Celano, Umberto |
| Titolo autorizzato: | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00126542 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-030-15612-1 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
NanoScience and Technology Berlin . -Springer , 1998-