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1. |
Record Nr. |
UNICAMPANIAVAN00126542 |
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Titolo |
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics / Umberto Celano editor |
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Pubbl/distr/stampa |
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Descrizione fisica |
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XX, 408 p. : ill. ; 24 cm |
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Disciplina |
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621.36 |
543.5 |
530 |
502.82 |
620.5 |
621.381 |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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