2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Conference Center, S. Lake Tahoe, California, October 17-20, 2005

• Pubblicazione: [Place of publication not identified], : IEEE Electron Devices Society, 2005
• Soggetto topico: Integrated circuits - Reliability; Integrated circuits - Reliability - Wafer-scale integration
• Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
• Titolo autorizzato: 2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report : Stanford Sierra Conference Center, S. Lake Tahoe, California, October 17-20, 2005
• ISBN: 1-5090-9773-2
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 996204072103316
• Lo trovi qui: Univ. di Salerno