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| Titolo: |
Lightning pin injection test [[electronic resource] ] : MOSFETS in "ON" state / / Jay J. Ely ... [and others]
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| Pubblicazione: | Hampton, Va. : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , [2011] |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (33 pages) : color illustrations |
| Soggetto topico: | X ray inspection |
| Damage assessment | |
| Lightning | |
| Metal oxide semiconductors | |
| Optical microscopes | |
| Waveforms | |
| Altri autori: |
ElyJay J
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| Note generali: | Title from title screen (viewed on June 22, 2011). |
| "January 2011." | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 33). |
| Altri titoli varianti: | Lightning pin injection test |
| Titolo autorizzato: | Lightning pin injection test ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910700601403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |