IEEE instrumentation & measurement magazine
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| Titolo: |
IEEE instrumentation & measurement magazine
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| Pubblicazione: | New York, NY, : Institute of Electrical and Electronics Engineers, ©1998- |
| Disciplina: | 621 |
| Soggetto topico: | Industrial electronics |
| Electronic instruments | |
| Measurement | |
| Testing | |
| Testing - Periodicals | |
| Appareils électroniques - Périodiques | |
| Mesure - Périodiques | |
| Essais (Technologie) - Périodiques | |
| Électronique industrielle | |
| Appareils électroniques | |
| Mesure | |
| Essais (Technologie) | |
| Soggetto genere / forma: | Periodicals. |
| ISSN: | 1941-0123 |
| Note generali: | Refereed/Peer-reviewed |
| Title from IEEExplore homepage (viewed Jul. 13, 2000). | |
| Titolo abbreviato (Periodici): | IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT MAGAZINE |
| IEEE INSTRU MEAS MAG | |
| INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT MAGAZINE, IEEE | |
| IEEE INSTRUM MEAS MAG | |
| IEEE INSTRUM. MEAS. MAG | |
| IEEE instrum. meas. mag. | |
| Altri titoli varianti: | IEEE instrumentation and measurement magazine |
| I & M magazine | |
| Instrumentation & measurement | |
| Titolo autorizzato: | IEEE instrumentation & measurement magazine |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910625186403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |