Einführung in die Kristallographie / / Joachim Bohm, Detlef Klimm, Manfred Mühlberg, Björn Winkler

• Autore: Bohm Joachim
• Pubblicazione: Berlin ; ; Boston : , : De Gruyter, , [2020]; ©2021
• Edizione: 20., erweiterte Auflage
• Descrizione fisica: 1 online resource (XVI, 516 p.)
• Disciplina: 530
• Soggetto topico: Technology & Engineering / Materials Science / General
• Soggetto non controllato: Crystal chemistry; crystal morphology; crystal physics; crystallography; theory of crystal structure
• Altri autori: BautschHans-Joachim KleberWill
• Persona (resp. second.): KlimmDetlef; MühlbergManfred; WinklerBjörn
• Nota di contenuto: Frontmatter -- Inhalt -- Vorwort -- Einleitung -- 1. Kristallstrukturlehre und Kristallmorphologie -- 2. Kristallchemie -- 3. Beugungsmethoden und Kristallstrukturbestimmung -- 4. Kristallisation–Kristallwachstum–Kristallzüchtung -- 5. Kristallphysik -- 6. Defekte in Kristallen (Realstrukturen) -- Beantwortung der Fragen -- Literatur -- Stichwortverzeichnis
• Sommario/riassunto: Die 20., stark überarbeitete Auflage dieses bewährten Standardwerks behandelt grundlegend und umfassend sämtliche Teilgebiete der Kristallographie, wobei u. a.aktuelle Beugungsmethoden mit Neutronen und Synchrotronstrahlung erstmalig beschrieben werden.; The 20th edition of this proven standard work has been completely revised to cover all areas of crystallography in a fundamental and comprehensive way. For the first time, it includes a discussion of current diffraction methods and synchrotron radiation.
• Titolo autorizzato: Einführung in die Kristallographie
• ISBN: 3-11-046024-6
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Tedesco
• Record Nr.: 9910554240903321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II
• Serie: De Gruyter Studium