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Titolo: | VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008 |
Pubblicazione: | New York : , : IEEE, , 2008 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (xxx, 413 pages) |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
Titolo autorizzato: | VTS 2008 |
ISBN: | 1-5090-8176-3 |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910145676203321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |