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1. |
Record Nr. |
UNINA9910145676203321 |
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Titolo |
VTS 2008 : proceedings : 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008 |
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Pubbl/distr/stampa |
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New York : , : IEEE, , 2008 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (xxx, 413 pages) |
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Soggetti |
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Integrated circuits - Very large scale integration - Testing |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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