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2006 International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology : IEEE DTIS 2006 : September 05-07, 2006, Tunis, Tunisia : proceedings



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Titolo: 2006 International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology : IEEE DTIS 2006 : September 05-07, 2006, Tunis, Tunisia : proceedings Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006
Soggetto topico: Integrated circuits - Design and construction
Integrated circuits - Testing
Nanotechnology - Design
Microelectronics
Electrical & Computer Engineering
Electrical Engineering
Engineering & Applied Sciences
Persona (resp. second.): GirardPatrick
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Titolo autorizzato: 2006 International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology : IEEE DTIS 2006 : September 05-07, 2006, Tunis, Tunisia : proceedings  Visualizza cluster
ISBN: 1-5090-9548-9
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910145647203321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui