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Standard reference materials preparation and certification of SRM-2530, ellipsometric parameters ? and ? and derived thickness and refractive index of a silicon dioxide layer on silicon
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Marc (testo)
Standard reference materials
ID:
3445361
Creatori:
(1391513) Belzer, Ben J.
...
(1391514) Candela, G. A.
...
(1391515) Chandler-Horowitz, Deane
...
(1391516) Croarkin M. C
...
(1391517) Novotny D. B
...
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