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Determinazione della densità di stati nella "Pseudo-Gap" del silicio amorfo mediante misure di correnti limitate da carica spaziale. Tesi di laurea
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Determinazione della densità di stati nella "Pseudo-Gap" del silicio amorfo mediante misure di correnti limitate da carica spaziale. Tesi di laurea
ID:
241708
Creatori:
(477847) Vernich, Lucio
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