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Photoinduced defects in semiconductors / David Redfield and Richard H. Bube
| Photoinduced defects in semiconductors / David Redfield and Richard H. Bube |
| Autore | Redfield, David |
| Pubbl/distr/stampa | Cambridge, : Cambridge University press, 2006 |
| Descrizione fisica | X, 217 p. : ill. ; 23 cm |
| Disciplina |
621.3815
621.38152 |
| Altri autori (Persone) | Bube, Richard H. <1927- > |
| Collana | Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering |
| Soggetto topico |
SEMICONDUTTORI - Difetti
Fotochimica |
| ISBN |
0521024455
9780521024457 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-MIL0703106 |
Redfield, David
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| Cambridge, : Cambridge University press, 2006 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
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Theory of CMOS digital circuits and circuit failures / Masakazu Shoji
| Theory of CMOS digital circuits and circuit failures / Masakazu Shoji |
| Autore | Shoji, Masakazu <1936- > |
| Pubbl/distr/stampa | Princeton, : Princeton university press, 1992 |
| Descrizione fisica | XVIII, 570 p. ; 27 cm |
| Disciplina |
621.39
621.395 |
| Soggetto topico |
Circuiti integrati - Progettazione
SEMICONDUTTORI - Difetti |
| ISBN | 0691087636 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-MIL0151580 |
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Shoji, Masakazu <1936- >
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| Princeton, : Princeton university press, 1992 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Sannio | ||
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