2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2006 |
Descrizione fisica | 1 online resource (xiii, 229 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.3810287 |
Soggetto topico |
Electronic apparatus and appliances - Testing
Semiconductors - Testing |
ISBN | 1-5090-9294-3 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910145625903321 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2006 | ||
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2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2006 |
Descrizione fisica | 1 online resource (xiii, 229 pages) : illustrations |
Disciplina | 621.3810287 |
Soggetto topico |
Electronic apparatus and appliances - Testing
Semiconductors - Testing |
ISBN | 1-5090-9294-3 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996207692603316 |
[Place of publication not identified], : I E E E, 2006 | ||
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2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 |
Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
Disciplina | 621.3810287 |
Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
ISBN | 1-5386-0415-9 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium |
Record Nr. | UNISA-996280473403316 |
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 | ||
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2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 |
Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
Disciplina | 621.3810287 |
Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
ISBN | 1-5386-0415-9 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium |
Record Nr. | UNINA-9910209349503321 |
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 | ||
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2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium : 12-14 March 2018, Sao Paulo, Brazil / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
Descrizione fisica | 1 online resource (49 pages) |
Disciplina | 621.3810287 |
Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
ISBN | 1-5386-1472-3 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996280699103316 |
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 | ||
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2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium : 12-14 March 2018, Sao Paulo, Brazil / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
Descrizione fisica | 1 online resource (49 pages) |
Disciplina | 621.3810287 |
Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
ISBN | 1-5386-1472-3 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910280905103321 |
Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 | ||
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2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2022 |
Descrizione fisica | 1 online resource (various pagings) : illustrations |
Disciplina | 621.3810287 |
Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
ISBN | 1-66545-707-4 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | 2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium |
Record Nr. | UNISA-996575147503316 |
Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2022 | ||
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Analysis of microelectronic materials and devices / edited by M. Grasserbauer and H. W. Werner |
Pubbl/distr/stampa | Chichester [etc.], : J. Wiley, c1991 |
Descrizione fisica | XLVI, 934 p. : ill. ; 24 cm. |
Disciplina |
621.381028
621.3810287 |
Soggetto topico | Microelettronica - Materiali - Prove |
ISBN | 0471917133 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISANNIO-NAP0467282 |
Chichester [etc.], : J. Wiley, c1991 | ||
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Complementi di strumentazione e misure elettroniche / Gianfranco Ciccarella, Piero Marietti, Alessandro Trifiletti |
Autore | Ciccarella, Gianfranco |
Pubbl/distr/stampa | Milano : Cea, 2005 |
Descrizione fisica | vi, 176 p. ; 22 cm |
Disciplina | 621.3810287 |
Collana | Elettronica applicata ; 4b |
Soggetto topico | Electronic measurements |
ISBN | 8840811745 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Record Nr. | UNISALENTO-991000417659707536 |
Ciccarella, Gianfranco | ||
Milano : Cea, 2005 | ||
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Fondamenti di misure e strumentazione elettronica / A. Carullo, U. Pisani, A. Vallan |
Autore | Carullo, Alessio |
Pubbl/distr/stampa | Torino : CLUT, 2006 |
Descrizione fisica | 235 p. ; 24 cm |
Disciplina | 621.3810287 |
Altri autori (Persone) |
Pisani, Umberto
Vallan, Alessandro |
Soggetto non controllato | Misure elettroniche |
ISBN | 88-7992-209-2 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | ita |
Titolo uniforme | |
Record Nr. | UNIPARTHENOPE-000020489 |
Carullo, Alessio | ||
Torino : CLUT, 2006 | ||
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