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Understanding smart sensors / Randy Frank
| Understanding smart sensors / Randy Frank |
| Autore | Frank, Randy |
| Pubbl/distr/stampa | Boston ; London, : Artech House, c1996 |
| Descrizione fisica | XVI, 269 p. : ill., tab. ; 24 cm. |
| Disciplina |
681
681.2 |
| Soggetto topico |
Rivelatori
Strumenti per misure Semiconduttori |
| ISBN | 0890068240 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-RMS0024723 |
Frank, Randy
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| Boston ; London, : Artech House, c1996 | ||
| Materiale a stampa | ||
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VLSI fabrication principles : silicon and gallium arsenide / Sorab K. Ghandhi
| VLSI fabrication principles : silicon and gallium arsenide / Sorab K. Ghandhi |
| Autore | Ghandhi, Sorab Khushro <1928- > |
| Pubbl/distr/stampa | New York [etc.], : Wiley, 1983 |
| Descrizione fisica | XI, 665 p. ; 24 cm |
| Disciplina |
621.3815
621.38152 |
| Soggetto topico |
Circuiti integrati
Semiconduttori |
| ISBN | 0471868337 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-RMS0009540 |
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Ghandhi, Sorab Khushro <1928- >
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| New York [etc.], : Wiley, 1983 | ||
| Materiale a stampa | ||
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X-ray metrology in semiconductor manufacturing / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
| X-ray metrology in semiconductor manufacturing / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner |
| Autore | Bowen, David Keith <1940- > |
| Pubbl/distr/stampa | Boca Raton [etc.], : CRC, : Taylor & Francis, 2006 |
| Descrizione fisica | 279 p. : ill. ; 25 cm. |
| Disciplina |
621.3815
621.38152 |
| Altri autori (Persone) | Tanner, Brian K. |
| Soggetto topico |
Semiconduttori
Raggi X - Diffrazione |
| ISBN | 0849339286 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0472458 |
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Bowen, David Keith <1940- >
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| Boca Raton [etc.], : CRC, : Taylor & Francis, 2006 | ||
| Materiale a stampa | ||
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