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Advanced Linear Modeling : Statistical Learning and Dependent Data / Ronald Christensen
Advanced Linear Modeling : Statistical Learning and Dependent Data / Ronald Christensen
Autore Christensen, Ronald
Edizione [3. ed]
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica xxiii, 608 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 62Mxx - Inference from stochastic processes [MSC 2020]
62-XX - Statistics [MSC 2020]
62Hxx - Multivariate analysis [MSC 2020]
62G08 - Nonparametric regression and quantile regression [MSC 2020]
62K20 - Response surface designs [MSC 2020]
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0126672
Christensen, Ronald  
Cham, : Springer, 2019
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Advanced Linear Modeling : Statistical Learning and Dependent Data / Ronald Christensen
Advanced Linear Modeling : Statistical Learning and Dependent Data / Ronald Christensen
Autore Christensen, Ronald
Edizione [3. ed]
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica xxiii, 608 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 62Mxx - Inference from stochastic processes [MSC 2020]
62-XX - Statistics [MSC 2020]
62Hxx - Multivariate analysis [MSC 2020]
62G08 - Nonparametric regression and quantile regression [MSC 2020]
62K20 - Response surface designs [MSC 2020]
Soggetto non controllato ANOVA
Data analysis
Excel
Factor analysis
Heteroscedasticity
Mathematical statistics
Mixed models
Multivariate models
Statistica
Time series
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0126672
Christensen, Ronald  
Cham, : Springer, 2019
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Advanced mathematical & computational tools in metrology IV / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology IV / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2000
Descrizione fisica XI, 313 p. : ill. ; 23 cm.
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-10-24216-9
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 4.
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0073646
Singapore, : World scientific, 2000
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Advanced mathematical & computational tools in metrology IV / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology IV / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2000
Descrizione fisica XI, 313 p. : ill. ; 23 cm.
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-10-24216-9
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 4.
Record Nr. UNISOB-VAN0073646
Singapore, : World scientific, 2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Suor Orsola Benincasa
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Advanced mathematical & computational tools in metrology IV / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology IV / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2000
Descrizione fisica XI, 313 p. : ill. ; 23 cm
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-10-24216-9
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 4.
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0073646
Singapore, : World scientific, 2000
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Advanced mathematical & computational tools in metrology V / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology V / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2001
Descrizione fisica XII, 372 p. : ill. ; 23 cm.
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-10-24494-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 5.
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0073702
Singapore, : World scientific, 2001
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Advanced mathematical & computational tools in metrology V / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology V / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2001
Descrizione fisica XII, 372 p. : ill. ; 23 cm.
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-10-24494-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 5.
Record Nr. UNISOB-VAN0073702
Singapore, : World scientific, 2001
Materiale a stampa
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Advanced mathematical & computational tools in metrology V / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology V / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2001
Descrizione fisica XII, 372 p. : ill. ; 23 cm
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-10-24494-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 5.
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0073702
Singapore, : World scientific, 2001
Materiale a stampa
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Advanced mathematical & computational tools in metrology VI / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology VI / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2004
Descrizione fisica X, 350 p. : ill. ; 24 cm.
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-12-38904-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 6.
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0073691
Singapore, : World scientific, 2004
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Advanced mathematical & computational tools in metrology VI / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Advanced mathematical & computational tools in metrology VI / edited by P. Ciarlini ... [et al.]
Pubbl/distr/stampa Singapore, : World scientific, 2004
Descrizione fisica X, 350 p. : ill. ; 24 cm.
Soggetto topico 62-XX - Statistics [MSC 2020]
ISBN 978-98-12-38904-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Advanced mathematical & computational tools in metrology 6.
Record Nr. UNISOB-VAN0073691
Singapore, : World scientific, 2004
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