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Advanced MOS devices / Dieter K. Schroder
| Advanced MOS devices / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder, Dieter K. |
| Pubbl/distr/stampa | Reading (Mass.) [etc.] : Addison-Wesley, copyr. 1987 |
| Descrizione fisica | VII, 247 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 621381 |
| Collana | Modular series on solid state devices |
| Soggetto non controllato |
dispositivi ad accoppiamento di carica
semiconduttori metallo-ossidi |
| ISBN | 0-201-16506-6 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-990000224580203316 |
Schroder, Dieter K.
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| Reading (Mass.) [etc.] : Addison-Wesley, copyr. 1987 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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Advanced MOS devices / Dieter K. Schroder
| Advanced MOS devices / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder, Dieter K. |
| Pubbl/distr/stampa | Reading (Mass.) [etc.] : Addison-Wesley, copyr. 1987 |
| Descrizione fisica | VII, 247 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 621381 |
| Collana | Modular series on solid state devices |
| Soggetto non controllato |
dispositivi ad accoppiamento di carica
semiconduttori metallo-ossidi |
| ISBN | 0-201-16506-6 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-990000122170203316 |
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Schroder, Dieter K.
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| Reading (Mass.) [etc.] : Addison-Wesley, copyr. 1987 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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Semiconductor material and device characterization / / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization / / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder Dieter K. |
| Edizione | [3rd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway, New Jersey] : , : IEEE Press, , c2006 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (799 p.) |
| Disciplina | 621.38152 |
| Soggetto topico |
Semiconductors
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
1-280-65470-8
9786610654703 0-470-36250-2 0-471-74909-5 0-471-74908-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis. |
| Record Nr. | UNINA-9910143413003321 |
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Schroder Dieter K.
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| [Piscataway, New Jersey] : , : IEEE Press, , c2006 | ||
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Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder Dieter K |
| Edizione | [3rd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway, NJ], : IEEE Press |
| Descrizione fisica | 1 online resource (799 p.) |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Semiconductors
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
1-280-65470-8
9786610654703 0-470-36250-2 0-471-74909-5 0-471-74908-7 |
| Classificazione |
549.8
621.3815/2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis. |
| Record Nr. | UNISA-996202345903316 |
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Schroder Dieter K
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| [Piscataway, NJ], : IEEE Press | ||
| Materiale a stampa | ||
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Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization [[electronic resource] /] / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder Dieter K |
| Edizione | [3rd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway, NJ], : IEEE Press |
| Descrizione fisica | 1 online resource (799 p.) |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Semiconductors
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
1-280-65470-8
9786610654703 0-470-36250-2 0-471-74909-5 0-471-74908-7 |
| Classificazione |
549.8
621.3815/2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis. |
| Record Nr. | UNINA-9910830976103321 |
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Schroder Dieter K
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| [Piscataway, NJ], : IEEE Press | ||
| Materiale a stampa | ||
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Semiconductor material and device characterization / / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization / / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder Dieter K |
| Edizione | [3rd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway, NJ], : IEEE Press |
| Descrizione fisica | 1 online resource (799 p.) |
| Disciplina | 621.3815/2 |
| Soggetto topico |
Semiconductors
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
1-280-65470-8
9786610654703 0-470-36250-2 0-471-74909-5 0-471-74908-7 |
| Classificazione |
549.8
621.3815/2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Nota di contenuto | Resistivity -- Carrier and doping density -- Contact resistance and Schottky barriers -- Series resistance, channel length and width, and threshold voltage -- Defects -- Oxide and interface trapped charges, oxide thickness -- Carrier lifetimes -- Mobility -- Charge-based and probe characterization -- Optical characterization -- Chemical and physical characterization -- Reliability and failure analysis. |
| Record Nr. | UNINA-9910877632003321 |
|
Schroder Dieter K
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| [Piscataway, NJ], : IEEE Press | ||
| Materiale a stampa | ||
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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder, Dieter K. |
| Edizione | [3. ed] |
| Pubbl/distr/stampa | [Piscataway (N.J.)], : IEEE press |
| Descrizione fisica | XV, 779 p. : ill. ; 24 cm. |
| Disciplina |
621.3815
621.38152 |
| Soggetto topico | Semiconduttori |
| ISBN |
0471739065
9780471739067 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-PUV1054605 |
|
Schroder, Dieter K.
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| [Piscataway (N.J.)], : IEEE press | ||
| Materiale a stampa | ||
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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder |
| Autore | SCHRODER, Dieter K. |
| Edizione | [2. ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | New York [etc.] : A Wiley Interscience Publication, copyr. 1998 |
| Descrizione fisica | XXIV, 760 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 621.38152 |
| Soggetto topico | Semiconduttori |
| ISBN | 0-471-24139-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-990001199830203316 |
|
SCHRODER, Dieter K.
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| New York [etc.] : A Wiley Interscience Publication, copyr. 1998 | ||
| Materiale a stampa | ||
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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder, Dieter K. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Wiley & sons, ©1990 |
| Descrizione fisica | 599 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 621.382'52 |
| Soggetto non controllato | Semiconduttori |
| ISBN | 0-471-51104-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-990009351310403321 |
|
Schroder, Dieter K.
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| New York : Wiley & sons, ©1990 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
| Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder |
| Autore | Schroder, Dieter K. |
| Pubbl/distr/stampa | New York, : Wiley, 1990 |
| Descrizione fisica | XV, 599 p. : ill. ; 24 cm. |
| Disciplina | 621.38152 |
| ISBN | 04-7151-104-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0041734 |
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Schroder, Dieter K.
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| New York, : Wiley, 1990 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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