Standard procedure for use of thermoluminescence dosimetry in radiation-hardness testing of electronic devices / / J. C. Humphreys; S. E. Chappell
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| Autore: |
Humphreys Jimmy C
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| Titolo: |
Standard procedure for use of thermoluminescence dosimetry in radiation-hardness testing of electronic devices / / J. C. Humphreys; S. E. Chappell
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| Pubblicazione: | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1979 |
| Descrizione fisica: | 1 online resource |
| Altri autori: |
ChappellS. E
HumphreysJimmy C
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| Note generali: | 1979. |
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| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Titolo autorizzato: | Standard procedure for use of thermoluminescence dosimetry in radiation-hardness testing of electronic devices |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910710289103321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |