Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition [Risorsa elettronica] : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings / edited by Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fre
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| Titolo: |
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition [Risorsa elettronica] : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings / edited by Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fre
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| Pubblicazione: | Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006 |
| Persona (resp. second.): | Fred, Ana |
| Kwok, James T. | |
| Ridder, Dick | |
| Roli, Fabio | |
| Yeung, Dit-Yan | |
| Type File/ Data Note: | Formato html, pdf |
| Requisiti sistema: | Formato html, pdf |
| Titolo autorizzato: | Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition |
| ISBN: | 9783540372417 |
| Formato: | Risorse elettroniche  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990009237100403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://dx.doi.org/10.1007/11815921 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |