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| Autore: |
Heinrich, Kurt F. J.
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| Titolo: |
Advances in X-Ray Analysis : Proceedings of the 20th Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held August 11-13, 1971 / Edited by Kurt F.J. Heinrich and C.S. Barrett, J.B. Newkirk and C.O. Ruud
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| Pubblicazione: | New York : Plenum Press, 1972 |
| Descrizione fisica: | xii, 573 p. ; 25 cm |
| Disciplina: | 548 |
| Soggetto non controllato: | Cristallografia |
| Raggi x | |
| Persona (resp. second.): | Barrett, Charles Sanborn |
| Newkirk, John B. | |
| Ruud, Clayton O. | |
| Titolo autorizzato: | Advances in X-Ray Analysis ![]() |
| ISBN: | 0-306-38115-X |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 990001090560403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Collocazione: | 37-025.014 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |