Vai al contenuto principale della pagina
Autore: | Benediktovich, Andrei |
Titolo: | Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis : Theory and Applications / Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov |
Pubblicazione: | xiii, 318 p., : ill. ; 24 cm |
Titolo uniforme: | Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis |
Edizione: | Berlin : Springer, 2014 |
Soggetto topico: | 78A55 - Technical applications of optics and electromagnetic theory [MSC 2020] |
74-XX - Mechanics of deformable solids [MSC 2020] | |
78A45 - Diffraction, scattering [MSC 2020] | |
74F15 - Electromagnetic effects in solid mechanics [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | Dynamical theory of diffraction |
Grazing-incidence diffraction | |
Materials analysis | |
Theory of X-ray diffraction in crystals | |
X-ray Spectroscopy | |
X-ray diffraction theory | |
X-ray polarizability | |
X-ray powder diffraction | |
X-ray reflectivity book | |
X-ray theory explained | |
Altri autori: | Feranchuk, Ilya Ulyanenkov, Alexander |
Titolo autorizzato: | Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0133122 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-642-38177-5 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |