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Autore: | Peluso, Tommaso |
Titolo: | Studi mediante diffrattometria di raggi X di eterostrutture ZnS/GaAs (001) / laureando Tommaso Peluso ; relatori Lorenzo Vasanelli e Leander Tapfer |
Pubblicazione: | Lecce : a.a. 1992-93 |
Descrizione fisica: | 80 p. |
Altri autori: | Tapfer, Leander Vasanelli, Lorenzo |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Italiano |
Record Nr.: | 991001273619707536 |
Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |