Software Process and Product Measurement [Risorsa elettronica] : International Conferences IWSM 2008, Metrikon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings / edited by David Hutchison, Takeo Kanade, Josef Kittler, Jon M. Kleinberg, Friedemann Mattern, John C. Mitchell, Moni Naor, Oscar Nierstrasz, C. Pandu Rangan, Bernhard Steffen, Madhu Sudan, Demetri Terzopoulos, Doug Tygar, Moshe Y. Vardi, Gerhard Weikum, Reiner R. Dumke, René Braungarten, Günter Büren, Alain Abran, Juan J. Cuadrado-Gallego

• Pubblicazione: Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008
• Persona (resp. second.): Abran, Alain; Braungarten, René; Büren, Günter; Cuadrado-Gallego, Juan J.; Dumke, Reiner R.; Hutchison, David; Kanade, Takeo; Kittler, Josef; Kleinberg, Jon M.; Mattern, Friedemann; Mitchell, John C.; Naor, Moni; Nierstrasz, Oscar; Pandu Rangan, C.; Steffen, Bernhard; Sudan, Madhu; Terzopoulos, Demetri; Tygar, Doug; Vardi, Moshe Y.; Weikum, Gerhard
• Type File/ Data Note: Formato html, pdf
• Requisiti sistema: Formato html, pdf
• Titolo autorizzato: Software Process and Product Measurement
• ISBN: 9783540894032
• Formato: Risorse elettroniche
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 990009258290403321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II
• Localizzazioni e accesso elettronico: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-89403-2