Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]

• Pubblicazione: New York : Springer, 2003
• Edizione: 3. ed.
• Descrizione fisica: XIX, 690 p. : ill. ; 25 cm + cd-rom
• Persona (resp. second.): Goldstein, Joseph Irwin
• Titolo autorizzato: Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
• ISBN: 9780306472923
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 990009421290403321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II
• Collocazione: GM1 2011 0034