Vai al contenuto principale della pagina
| Titolo: |
Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis / Joseph I. Goldstein...[et al.]
|
| Pubblicazione: | New York...[etc.] : Kluwer Academic-Plenum Publishers, c2003 |
| Edizione: | 3 ed. |
| Descrizione fisica: | XIX, 689 p. : ill. ; 26 cm. + 1 CD-ROM |
| Disciplina: | 502.825 |
| Soggetto topico: | Microscopia elettronica |
| Altri autori: |
Goldstein, Joseph I.
|
| Titolo autorizzato: | Scanning electron microscopy and X-Ray microanalysis ![]() |
| ISBN: | 0-306-47292-9 |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 000014747 |
| Lo trovi qui: | Univ. della Basilicata |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |