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Scanning Kelvin probe microscopy : a tool to investigate nano-scale doping non-uniformities in poly-si/siox contacts : preprint / / Abhijit S. Kale [and eight others]



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Autore: Kale Abhijit S. Visualizza persona
Titolo: Scanning Kelvin probe microscopy : a tool to investigate nano-scale doping non-uniformities in poly-si/siox contacts : preprint / / Abhijit S. Kale [and eight others] Visualizza cluster
Pubblicazione: Golden, CO : , : National Renewable Energy Laboratory, , 2019
Descrizione fisica: 1 online resource (4 pages) : color illustrations
Soggetto topico: Solar cells
Photovoltaic power generation
Note generali: "November 2019."
Presented at the 46th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 46), 16-21 June 2019, Chicago, Illinois.
Nota di bibliografia: Includes bibliographical references.
Altri titoli varianti: Scanning Kelvin probe microscopy
Titolo autorizzato: Scanning Kelvin probe microscopy  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910713788303321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui