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Autore: |
Kale Abhijit S.
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Titolo: |
Scanning Kelvin probe microscopy : a tool to investigate nano-scale doping non-uniformities in poly-si/siox contacts : preprint / / Abhijit S. Kale [and eight others]
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Pubblicazione: | Golden, CO : , : National Renewable Energy Laboratory, , 2019 |
Descrizione fisica: | 1 online resource (4 pages) : color illustrations |
Soggetto topico: | Solar cells |
Photovoltaic power generation | |
Note generali: | "November 2019." |
Presented at the 46th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 46), 16-21 June 2019, Chicago, Illinois. | |
Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references. |
Altri titoli varianti: | Scanning Kelvin probe microscopy |
Titolo autorizzato: | Scanning Kelvin probe microscopy ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910713788303321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |