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Titolo: | Scanning Ion Conductance Microscopy / editors Tilman E. Schäffer |
Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2022 |
Descrizione fisica: | XI, 230 p. : ill. ; 24 cm |
Persona (resp. second.): | Schäffer, Tilman E. |
Titolo autorizzato: | Scanning Ion Conductance Microscopy |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN00261750 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-031-14443-1 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |