Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials
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| Autore: |
Igor Djerdj (Ed.)
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| Titolo: |
Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials
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| Pubblicazione: | MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute, 2019 |
| Descrizione fisica: | 1 electronic resource (88 p.) |
| Soggetto non controllato: | Rietveld method |
| Structural characterization | |
| Microstructural analysis | |
| Crystalline materials | |
| Structural materials | |
| X-ray and neutron diffraction | |
| Functional materials | |
| Sommario/riassunto: | This Special Issue serves as a crystallographic forum covering various aspects of material science that have in common the use of the powerful Rietveld method in the analysis of the powder XRD patterns of investigated compounds. |
| Titolo autorizzato: | Rietveld Refinement in the Characterization of Crystalline Materials |
| ISBN: | 3-03897-528-1 |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910346672903321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |