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| Autore: |
Choudhury, Balamati
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| Titolo: |
Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces / Balamati Choudhury, Rakesh Mohan Jha
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| Pubblicazione: | Singapore, : Springer, 2016 |
| Titolo uniforme: | Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces |
| Descrizione fisica: | xxiv, 61 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | Aerospace structures |
| Analytical modeling | |
| Curvature effect | |
| Ray-tracing | |
| Refined ray-tracing | |
| Space module | |
| Altri autori: |
Jha, Rakesh M.
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| Titolo autorizzato: | Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0178799 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-981-287-808-3 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |