Vai al contenuto principale della pagina

Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces / Balamati Choudhury, Rakesh Mohan Jha



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Autore: Choudhury, Balamati Visualizza persona
Titolo: Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces / Balamati Choudhury, Rakesh Mohan Jha Visualizza cluster
Pubblicazione: Singapore, : Springer, 2016
Titolo uniforme: Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces  
Descrizione fisica: xxiv, 61 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico: 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
Soggetto non controllato: Aerospace structures
Analytical modeling
Curvature effect
Ray-tracing
Refined ray-tracing
Space module
Altri autori: Jha, Rakesh M.  
Titolo autorizzato: Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN0178799
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico http://doi.org/10.1007/978-981-287-808-3
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering. Computational Electromagnetics Berlin . -Springer