Progress in Pattern Recognition, Image Analysis and Applications [Risorsa elettronica] : 13th Iberoamerican Congress on Pattern Recognition, CIARP 2008, Havana, Cuba, September 9-12, 2008. Proceedings / edited by David Hutchison, Takeo Kanade, Josef Kittler, Jon M. Kleinberg, Friedemann Mattern, John C. Mitchell, Moni Naor, Oscar Nierstrasz, C. Pandu Rangan, Bernhard Steffen, Madhu Sudan, Demetri Terzopoulos, Doug Tygar, Moshe Y. Vardi, Gerhard Weikum, José Ruiz-Shulcloper, Walter G. Kropatsch

• Pubblicazione: Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008
• Persona (resp. second.): Hutchison, David; Kanade, Takeo; Kittler, Josef; Kleinberg, Jon M.; Kropatsch, Walter G.; Mattern, Friedemann; Mitchell, John C.; Naor, Moni; Nierstrasz, Oscar; Pandu Rangan, C.; Ruiz-Shulcloper, José; Steffen, Bernhard; Sudan, Madhu; Terzopoulos, Demetri; Tygar, Doug; Vardi, Moshe Y.; Weikum, Gerhard
• Type File/ Data Note: Formato html, pdf
• Requisiti sistema: Formato html, pdf
• Titolo autorizzato: Progress in Pattern Recognition, Image Analysis and Applications
• ISBN: 9783540859208
• Formato: Risorse elettroniche
• Livello bibliografico: Monografia
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Record Nr.: 990009256870403321
• Lo trovi qui: Univ. Federico II
• Localizzazioni e accesso elettronico: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85920-8