Vai al contenuto principale della pagina

First International Conference on Electron and Ion Beam Science and Technology / edited by Robert Bakish



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Autore: Bakish, Robert Visualizza persona
Titolo: First International Conference on Electron and Ion Beam Science and Technology / edited by Robert Bakish Visualizza cluster
Pubblicazione: New York [etc.] : John Wiley, 1965
Descrizione fisica: xii, 945 p. : ill. ; 23 cm
Disciplina: 620
Soggetto non controllato: Ingegneria
Tecnica
Note generali: in cooperation with the Metallurgical Society of the AIME
Titolo autorizzato: First International Conference on Electron and Ion Beam Science and Technology  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 990000956350403321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Collocazione: 40-057
Opac: Controlla la disponibilità qui