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Circuit Design for Reliability / edited by Ricardo Reis, Yu Cao, Gilson Wirth



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Titolo: Circuit Design for Reliability / edited by Ricardo Reis, Yu Cao, Gilson Wirth Visualizza cluster
Pubblicazione: Cham, : Springer, 2015
Descrizione fisica: vi, 272 p. ; 24 cm
Persona (resp. second.): Reis, Ricardo
Titolo autorizzato: Circuit Design for Reliability  Visualizza cluster
ISBN: 978-14-614-4077-2
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN00108569
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico http://link.springer.com/book/10.1007%2F978-1-4614-4078-9
Opac: Controlla la disponibilità qui