Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience / Jian Min Zuo, John C. H. Spence
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| Autore: |
Zuo, Jian M.
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| Titolo: |
Advanced Transmission Electron Microscopy : Imaging and Diffraction in Nanoscience / Jian Min Zuo, John C. H. Spence
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2017 |
| Descrizione fisica: | XXV, 729 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina: | 621.366(Fisica applicata. Laser spettroscopia) |
| 541(Chimica fisica) | |
| 530.41(Fisica dello stato solido) | |
| 535.2(Ottica fisica) | |
| 620.5(Nanotecnologia) | |
| 620.1(Scienze dei materiali) | |
| Altri autori: |
Spence, John C. H.
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| Titolo autorizzato: | Advanced Transmission Electron Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN00123283 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4939-6607-3 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |