Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces / Balamati Choudhury, Rakesh Mohan Jha |
Autore | Choudhury, Balamati |
Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2016 |
Descrizione fisica | xxiv, 61 p. : ill. ; 24 cm |
Altri autori (Persone) | Jha, Rakesh M. |
Soggetto topico |
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] |
Soggetto non controllato |
Aerospace structures
Analytical modeling Curvature effect Ray-tracing Refined ray-tracing Space module |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Titolo uniforme | |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0178799 |
Choudhury, Balamati | ||
Singapore, : Springer, 2016 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces / Balamati Choudhury, Rakesh Mohan Jha |
Autore | Choudhury, Balamati |
Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2016 |
Descrizione fisica | xxiv, 61 p. : ill. ; 24 cm |
Altri autori (Persone) | Jha, Rakesh M. |
Soggetto topico |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
Soggetto non controllato |
Aerospace structures
Analytical modeling Curvature effect Ray-tracing Refined ray-tracing Space module |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Titolo uniforme | |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00178799 |
Choudhury, Balamati | ||
Singapore, : Springer, 2016 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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