Advanced Computing in Electron Microscopy / Earl J. Kirkland
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| Autore: |
Kirkland, Earl J.
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| Titolo: |
Advanced Computing in Electron Microscopy / Earl J. Kirkland
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| Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2020 |
| Titolo uniforme: | Advanced Computing in Electron Microscopy |
| Edizione: | 3. ed |
| Descrizione fisica: | xii, 354 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: | 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| 94A08 - Image processing (compression, reconstruction, etc.) in information and communication theory [MSC 2020] | |
| Soggetto non controllato: | ABF imaging |
| Biological Microscopy | |
| Fast Fourier Transform | |
| Fast Fourier projection theorem | |
| Image interpretation | |
| Multislice methods | |
| Parallel image processing | |
| Scanning transmission electron microscope | |
| Theory of electron image formation | |
| Transmission Electron Microscopy | |
| Titolo autorizzato: | Advanced Computing in Electron Microscopy |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | VAN0225518 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-030-33260-0 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |