| Autore: |
Meyer, Ernst
|
| Titolo: |
Scanning Probe Microscopy : The Lab on a Tip / Ernst Meyer, Roland Bennewitz, Hans J. Hug
|
| Pubblicazione: |
Cham, : Springer, 2021 |
| Edizione: |
2. ed |
| Descrizione fisica: |
xiv, 322 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico: |
74K35 - Thin films [MSC 2020] |
| |
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020] |
| |
81V80 - Quantum optics [MSC 2020] |
| |
83-XX - Relativity and gravitational theory [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato: |
Atomic Force Microscopy |
| |
Contact Force Microscopy |
| |
Friction Force Microscopy |
| |
High-speed imaging of biological matter |
| |
Magnetic Force Microscopy |
| |
Scanning Tunneling Microscopy |
| |
Scanning Tunneling Microscopy techniques |
| |
Tapping Mode Force Microscopy |
| Altri autori: |
Bennewitz, Roland
Hug, Hans J.
|
| Titolo autorizzato: |
Scanning Probe Microscopy |
|
| Formato: |
Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico |
Monografia |
| Lingua di pubblicazione: |
Inglese |
| Record Nr.: | VAN00282797 |
|
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico |
http://doi.org/10.1007/978-3-030-37089-3 |
| Opac: |
Controlla la disponibilità qui |
