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Quantum Metrology, Imaging, and Communication / David S. Simon, Gregg Jaeger, Alexander V. Sergienko
Quantum Metrology, Imaging, and Communication / David S. Simon, Gregg Jaeger, Alexander V. Sergienko
Autore Simon, David S.
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2017
Descrizione fisica xii, 273 p. : ill. ; 24 cm
Altri autori (Persone) Jaeger, Gregg
Sergienko, Alexander V.
Soggetto topico 81-XX - Quantum theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
81V80 - Quantum optics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020]
Soggetto non controllato Applied Quantum Optics
Dispersion Cancellation
Experimental Optics
Ghost Imaging
Introduction to Quantum Optics
Quantum Imaging
Quantum Lithography
Quantum Microscopy
Quantum Optical Cryptography
Quantum Optical Metrology
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0191274
Simon, David S.  
Cham, : Springer, 2017
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Quantum Metrology, I...Simon, David S.
Quantum Metrology, Imaging, and Communication / David S. Simon, Gregg Jaeger, Alexander V. Sergienko
Quantum Metrology, Imaging, and Communication / David S. Simon, Gregg Jaeger, Alexander V. Sergienko
Autore Simon, David S.
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2017
Descrizione fisica xii, 273 p. : ill. ; 24 cm
Altri autori (Persone) Jaeger, Gregg
Sergienko, Alexander V.
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020]
81-XX - Quantum theory [MSC 2020]
81V80 - Quantum optics [MSC 2020]
Soggetto non controllato Applied Quantum Optics
Dispersion Cancellation
Experimental Optics
Ghost Imaging
Introduction to Quantum Optics
Quantum Imaging
Quantum Lithography
Quantum Microscopy
Quantum Optical Cryptography
Quantum Optical Metrology
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00191274
Simon, David S.  
Cham, : Springer, 2017
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Quantum Metrology, I...Simon, David S.