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Si Detectors and Characterization for HEP and Photon Science Experiment : How to Design Detectors by TCAD Simulation / Ajay Kumar Srivastava
Si Detectors and Characterization for HEP and Photon Science Experiment : How to Design Detectors by TCAD Simulation / Ajay Kumar Srivastava
Autore Srivastava, Ajay Kumar
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica xvii, 183 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 82-XX - Statistical mechanics, structure of matter [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
81V35 - Nuclear physics [MSC 2020]
Soggetto non controllato CERN RD50 collaboration
CMS detector
Designing pixel detectors
High Luminosity Large Hadron Collider experiments
High precision radiation hard detectors
LHC
Pixel sensors
Semiconductor radiation detectors
Si pixel detector
Surface radiation design
TCAD
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0218625
Srivastava, Ajay Kumar  
Cham, : Springer, 2019
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Si Detectors and Characterization for HEP and Photon Science Experiment : How to Design Detectors by TCAD Simulation / Ajay Kumar Srivastava
Si Detectors and Characterization for HEP and Photon Science Experiment : How to Design Detectors by TCAD Simulation / Ajay Kumar Srivastava
Autore Srivastava, Ajay Kumar
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica xvii, 183 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
81V35 - Nuclear physics [MSC 2020]
82-XX - Statistical mechanics, structure of matter [MSC 2020]
Soggetto non controllato CERN RD50 collaboration
CMS detector
Designing pixel detectors
High Luminosity Large Hadron Collider experiments
High precision radiation hard detectors
LHC
Pixel sensors
Semiconductor radiation detectors
Si pixel detector
Surface radiation design
TCAD
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Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00218625
Srivastava, Ajay Kumar  
Cham, : Springer, 2019
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