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Advanced Computing in Electron Microscopy / Earl J. Kirkland
Advanced Computing in Electron Microscopy / Earl J. Kirkland
Autore Kirkland, Earl J.
Edizione [3. ed]
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2020
Descrizione fisica xii, 354 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
94A08 - Image processing (compression, reconstruction, etc.) in information and communication theory [MSC 2020]
Soggetto non controllato ABF imaging
Biological Microscopy
Fast Fourier Transform
Fast Fourier projection theorem
Image interpretation
Multislice methods
Parallel image processing
Scanning transmission electron microscope
Theory of electron image formation
Transmission Electron Microscopy
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0225518
Kirkland, Earl J.  
Cham, : Springer, 2020
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Advanced Computing in Electron Microscopy / Earl J. Kirkland
Advanced Computing in Electron Microscopy / Earl J. Kirkland
Autore Kirkland, Earl J.
Edizione [3. ed]
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2020
Descrizione fisica xii, 354 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020]
94A08 - Image processing (compression, reconstruction, etc.) in information and communication theory [MSC 2020]
Soggetto non controllato ABF imaging
Biological Microscopy
Fast Fourier Transform
Fast Fourier projection theorem
Image interpretation
Multislice methods
Parallel image processing
Scanning transmission electron microscope
Theory of electron image formation
Transmission Electron Microscopy
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Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00225518
Kirkland, Earl J.  
Cham, : Springer, 2020
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