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Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach : Doctoral Thesis accepted by Lancaster University, Lancashire, England / Nicholas D. Kay



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Autore: Kay, Nicholas D. Visualizza persona
Titolo: Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach : Doctoral Thesis accepted by Lancaster University, Lancashire, England / Nicholas D. Kay Visualizza cluster
Pubblicazione: Cham, : Springer, 2018
Titolo uniforme: Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals  
Descrizione fisica: xxi, 122 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico: 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
74K35 - Thin films [MSC 2020]
74A50 - Structured surfaces and interfaces, coexistent phases [MSC 2020]
Soggetto non controllato: 2D Crystals
2D Nanoelectromechanical Properties
Atomic Force Microscopy
Heterodyne Force Microscopy
Nano Electromechanical Resonator
Nano-Mechanics
Nanoelectromechanical Properties of 2D Materials
Subsurface Mechanical Properties
Ultrasonic Force Microscopy
Titolo autorizzato: Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN0211460
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico http://doi.org/10.1007/978-3-319-70181-3
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: Springer theses : recognizing outstanding Ph.D. research Berlin . -Springer , 2010-