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Multiscale Paradigms in Integrated Computational Materials Science and Engineering : Materials Theory, Modeling, and Simulation for Predictive Design / Pierre Deymier, Keith Runge, Krishna Muralidharan editors
Multiscale Paradigms in Integrated Computational Materials Science and Engineering : Materials Theory, Modeling, and Simulation for Predictive Design / Pierre Deymier, Keith Runge, Krishna Muralidharan editors
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2016
Descrizione fisica ix, 300 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
Soggetto non controllato Computational Materials Science and Engineering
Interatomic Potentials
Multiscale Modeling
Nano- and Meso-Scale Materials Phenomena
Orbital-free Density Functional Theory (OFDFT)
Path Integral Molecular Dynamics (PIMD)
Phase Field Methods
Predictive Simulation
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0164456
Cham, : Springer, 2016
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Multiscale Paradigms in Integrated Computational Materials Science and Engineering : Materials Theory, Modeling, and Simulation for Predictive Design / Pierre Deymier, Keith Runge, Krishna Muralidharan editors
Multiscale Paradigms in Integrated Computational Materials Science and Engineering : Materials Theory, Modeling, and Simulation for Predictive Design / Pierre Deymier, Keith Runge, Krishna Muralidharan editors
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2016
Descrizione fisica ix, 300 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
Soggetto non controllato Computational Materials Science and Engineering
Interatomic Potentials
Multiscale Modeling
Nano- and Meso-Scale Materials Phenomena
Orbital-free Density Functional Theory (OFDFT)
Path Integral Molecular Dynamics (PIMD)
Phase Field Methods
Predictive Simulation
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00164456
Cham, : Springer, 2016
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