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Autore: |
Kirkland, Earl J.
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Titolo: |
Advanced Computing in Electron Microscopy / Earl J. Kirkland
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Pubblicazione: | Cham, : Springer, 2020 |
Titolo uniforme: | Advanced Computing in Electron Microscopy |
Edizione: | 3. ed |
Descrizione fisica: | xii, 354 p. : ill. ; 24 cm |
Soggetto topico: | 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
94A08 - Image processing (compression, reconstruction, etc.) in information and communication theory [MSC 2020] | |
Soggetto non controllato: | ABF imaging |
Biological Microscopy | |
Fast Fourier Transform | |
Fast Fourier projection theorem | |
Image interpretation | |
Multislice methods | |
Parallel image processing | |
Scanning transmission electron microscope | |
Theory of electron image formation | |
Transmission Electron Microscopy | |
Titolo autorizzato: | Advanced Computing in Electron Microscopy ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | VAN0225518 |
Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-030-33260-0 |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |