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Complex Analysis and Dynamical Systems : New Trends and Open Problems / Mark Agranovsky ... [et al.] editors
Complex Analysis and Dynamical Systems : New Trends and Open Problems / Mark Agranovsky ... [et al.] editors
Pubbl/distr/stampa Cham, : Birkhäuser, 2018
Descrizione fisica viii, 372 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 31-XX - Potential theory [MSC 2020]
37-XX - Dynamical systems and ergodic theory [MSC 2020]
30-XX - Functions of a complex variable [MSC 2020]
32-XX - Several complex variables and analytic spaces [MSC 2020]
Soggetto non controllato Analytic cusp
Asymptotic Toeplitz operators
Bombieri numbers
Boundary slits
Composition Operators
Conformal welding
Harmonic measures
Holomorphic mappings
Loewner Equation
Ordinary differential equations
Semigroups
Weighted composition operators
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0124608
Cham, : Birkhäuser, 2018
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Schramm–Loewner Evolution / Antti Kemppainen
Schramm–Loewner Evolution / Antti Kemppainen
Autore Kemppainen, Antti
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2017
Descrizione fisica ix, 145 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 60K35 - Interacting random processes; statistical mechanics type models; percolation theory [MSC 2020]
60-XX - Probability theory and stochastic processes [MSC 2020]
82B43 - Percolation [MSC 2020]
60J67 - Stochastic (Schramm-)Loewner evolution (SLE) [MSC 2020]
Soggetto non controllato Area theorem
Bessel process
Brownian Motions
Cardy formula
Cardy-Smirnov formule
Conformal Maps
Convergence of Random Curves
Ising model
Ito's formula
Loewner Equation
Loewner chains
Percolation
Poisson Kernel
Random Curves
SLE
Scaling Limits
Schramm's principle
Schwarz-Christoffel mappings
Stochastic intergral
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0192955
Kemppainen, Antti  
Cham, : Springer, 2017
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui