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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis : Theory and Applications / Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov



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Autore: Benediktovich, Andrei Visualizza persona
Titolo: Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis : Theory and Applications / Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov Visualizza cluster
Pubblicazione: xiii, 318 p., : ill. ; 24 cm
Titolo uniforme: Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis  
Edizione: Berlin : Springer, 2014
Soggetto topico: 78A55 - Technical applications of optics and electromagnetic theory [MSC 2020]
74-XX - Mechanics of deformable solids [MSC 2020]
78A45 - Diffraction, scattering [MSC 2020]
74F15 - Electromagnetic effects in solid mechanics [MSC 2020]
Soggetto non controllato: Dynamical theory of diffraction
Grazing-incidence diffraction
Materials analysis
Theory of X-ray diffraction in crystals
X-ray Spectroscopy
X-ray diffraction theory
X-ray polarizability
X-ray powder diffraction
X-ray reflectivity book
X-ray theory explained
Altri autori: Feranchuk, Ilya  
Ulyanenkov, Alexander  
Titolo autorizzato: Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN0133122
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico http://doi.org/10.1007/978-3-642-38177-5
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: Springer series in materials science Berlin . -Springer ; 183