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Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation / Rongming Wang … [et al.] editors]
| Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation / Rongming Wang … [et al.] editors] |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer ; Beijing, : Peking University Press, 2018 |
| Descrizione fisica | vii, 508 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico |
00Bxx - Conference proceedings and collections of articles [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] 81V35 - Nuclear physics [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy
Charged-particle microscopy Electron Microanalysis Electron/Ion Optics Helium Ion Microscopy In situ TEM Scanning Electron Microscopy Transmission Electron Microscopy |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0212761 |
| Singapore, : Springer ; Beijing, : Peking University Press, 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation / Rongming Wang … [et al.] editors]
| Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation / Rongming Wang … [et al.] editors] |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer ; Beijing, : Peking University Press, 2018 |
| Descrizione fisica | vii, 508 p. : ill. ; 24 cm |
| Soggetto topico |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
00Bxx - Conference proceedings and collections of articles [MSC 2020] 81V35 - Nuclear physics [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy
Charged-particle microscopy Electron Microanalysis Electron/Ion Optics Helium Ion Microscopy In situ TEM Scanning Electron Microscopy Transmission Electron Microscopy |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00212761 |
| Singapore, : Springer ; Beijing, : Peking University Press, 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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