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A Practical Guide to Surface Metrology / Michael Quinten
A Practical Guide to Surface Metrology / Michael Quinten
Autore Quinten, Michael
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica xxv, 230 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020]
74K35 - Thin films [MSC 2020]
74A50 - Structured surfaces and interfaces, coexistent phases [MSC 2020]
Soggetto non controllato Confocal optical profiling
Digital Holographic Microscopy
Elastic light scattering
Grazing incidence interferometry
Light sectional methods
Multi-wavelength interferometry
Practical surface characterisation
Practical surface measurement
Scanning nearfield optical microscopy
Shearing interferometry
Spectral Reflectometry and Ellipsometry
Surface optical metrology
White light interferometry
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0214455
Quinten, Michael  
Cham, : Springer, 2019
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Digital Holographic Methods : Low Coherent Microscopy and Optical Trapping in Nano-Optics and Biomedical Metrology / Stephan Stuerwald
Digital Holographic Methods : Low Coherent Microscopy and Optical Trapping in Nano-Optics and Biomedical Metrology / Stephan Stuerwald
Autore Stuerwald, Stephan
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2018
Descrizione fisica xi, 264 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 92C05 - Biophysics [MSC 2020]
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020]
Soggetto non controllato Bessel Beams
Biomedical Metrology
Digital Holographic Microscopy
Direct Laser Writing
Holographic Optical Traps
Microscope Aberration Correction
Nano-Antenna-Assisted Trapping
Nonlinear Optical Beams
Phase-Only Light Modulator
Phase-Shifting Digital Holography
Spatial Light Modulator
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0208453
Stuerwald, Stephan  
Cham, : Springer, 2018
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui