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Advanced X-ray imaging of electrochemical energy materials and devices / / Jiajun Wang, editor
Advanced X-ray imaging of electrochemical energy materials and devices / / Jiajun Wang, editor
Pubbl/distr/stampa Singapore : , : Springer, , [2021]
Descrizione fisica 1 online resource (252 pages)
Disciplina 543.08586
Soggetto topico X-ray spectroscopy
X-ray microscopy
ISBN 981-16-5328-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910503010503321
Singapore : , : Springer, , [2021]
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Annotated bibliography on soft X-ray spectroscopy [[electronic resource] /] / H. Yakowitz and J.R. Cuthill
Annotated bibliography on soft X-ray spectroscopy [[electronic resource] /] / H. Yakowitz and J.R. Cuthill
Autore Yakowitz Harvey <1939->
Pubbl/distr/stampa Washington, D.C. : , : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, , [1962]
Descrizione fisica iv, 108 pages, 1 unnumbered folded leaf : illustrations ; ; 26 cm
Disciplina 016.620167
Altri autori (Persone) CuthillJ. R
Collana NBS monograph
Soggetto topico X-ray spectroscopy
Spectrometry, X-Ray Emission
Soggetto genere / forma Abstracts.
Bibliography
Bibliographies.
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910712903903321
Yakowitz Harvey <1939->  
Washington, D.C. : , : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards, , [1962]
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ANSI/IEEE Std 759-1984 : IEEE standard test procedures for semiconductor x-ray energy spectrometers / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
ANSI/IEEE Std 759-1984 : IEEE standard test procedures for semiconductor x-ray energy spectrometers / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 1984
Descrizione fisica 1 online resource (39 pages)
Disciplina 543.08586
Soggetto topico X-ray spectroscopy
Semiconductors
ISBN 0-7381-0715-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti ANSI/IEEE Std 759-1984: IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers
Record Nr. UNISA-996279553103316
Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 1984
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ANSI/IEEE Std 759-1984 : IEEE standard test procedures for semiconductor x-ray energy spectrometers / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
ANSI/IEEE Std 759-1984 : IEEE standard test procedures for semiconductor x-ray energy spectrometers / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Pubbl/distr/stampa Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 1984
Descrizione fisica 1 online resource (39 pages)
Disciplina 543.08586
Soggetto topico X-ray spectroscopy
Semiconductors
ISBN 0-7381-0715-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti ANSI/IEEE Std 759-1984: IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers
Record Nr. UNINA-9910135417703321
Piscataway, New Jersey : , : IEEE, , 1984
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Chemical correlation of some late Cenozoic tuffs of northern and central California by neutron activation analysis of glass and comparison with X-ray fluorescence analysis / / by Andrei M. Sarna-Wojcicki, Harry W. Bowman, and Paul C. Russell
Chemical correlation of some late Cenozoic tuffs of northern and central California by neutron activation analysis of glass and comparison with X-ray fluorescence analysis / / by Andrei M. Sarna-Wojcicki, Harry W. Bowman, and Paul C. Russell
Autore Sarna-Wojcicki Andrei M.
Pubbl/distr/stampa Washington : , : United States Department of the Interior, Geological Survey, , 1979
Descrizione fisica 1 online resource (iii, 15 pages) : illustrations, map
Collana Geological Survey professional paper
Soggetto topico Geology, Stratigraphic - Cenozoic
Nuclear activation analysis
Stratigraphic correlation - California
Volcanic ash, tuff, etc - California
X-ray spectroscopy
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910706901803321
Sarna-Wojcicki Andrei M.  
Washington : , : United States Department of the Interior, Geological Survey, , 1979
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Energy dispersion X-ray analysis : X-ray and electron probe analysis
Energy dispersion X-ray analysis : X-ray and electron probe analysis
Pubbl/distr/stampa Philadelphia : , : American Society for Testing and Materials, , 1971
Descrizione fisica 1 online resource ([2], 285 pages) : illustrations, charts, tables, diagrams
Disciplina 537.5/352
Collana ASTM special technical publication Energy dispersion X-ray analysis: X-ray and electron probe analysis.
Soggetto topico Electromagnetic noise
Germanium
X-ray spectroscopy
ISBN 0-8031-5571-9
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910164726303321
Philadelphia : , : American Society for Testing and Materials, , 1971
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EXAFS spectroscopy, techniques and applications / edited by B. K. Teo and D. C. Joy
EXAFS spectroscopy, techniques and applications / edited by B. K. Teo and D. C. Joy
Pubbl/distr/stampa New York : Plenum Press, c1981
Descrizione fisica viii, 275 p. : ill. ; 26 cm
Disciplina 543.6
Altri autori (Persone) Teo, B. K.
Joy, David C.
Altri autori (Enti) Materials Research Society
Soggetto topico X-ray spectroscopy
Absorption spectra
Extended x-ray absorption fine structure
ISBN 0306406543
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991001348509707536
New York : Plenum Press, c1981
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Handbook of X-ray spectrometry : methods and techniques / edited by René E. van Grieken, Andrzej A. Markowicz
Handbook of X-ray spectrometry : methods and techniques / edited by René E. van Grieken, Andrzej A. Markowicz
Autore Grieken, Rene : van
Pubbl/distr/stampa New York, NY : Marcel Dekker, c1993
Descrizione fisica xiv, 704 p. : ill. ; 26 cm.
Altri autori (Persone) Markowicz, Andrzej
Collana Practical spectroscopy series ; 14
Soggetto topico X-ray spectroscopy
ISBN 0824784839
Classificazione 53.0.692
53.8.8
543.08586
QD96.X2
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000989959707536
Grieken, Rene : van  
New York, NY : Marcel Dekker, c1993
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Handbook of X-ray spectrometry / edited by René E. Van Grieken, Andrzej A. Markowicz
Handbook of X-ray spectrometry / edited by René E. Van Grieken, Andrzej A. Markowicz
Edizione [2nd ed., rev. and expanded]
Pubbl/distr/stampa New York : Marcel Dekker, c2002
Descrizione fisica xvi, 983 p. : ill. ; 26 cm
Disciplina 543.08586
Altri autori (Persone) Grieken, R. van (René)
Markowicz, Andrzej
Collana Practical spectroscopy ; v. 29
Soggetto topico X-ray spectroscopy
Spectrometry, X-Ray Emission - methods
ISBN 0824706005
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000555579707536
New York : Marcel Dekker, c2002
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High-Resolution X-Ray Spectroscopy : Instrumentation, Data Analysis, and Science / / Cosimo Bambi and Jiachen Jiang, editors
High-Resolution X-Ray Spectroscopy : Instrumentation, Data Analysis, and Science / / Cosimo Bambi and Jiachen Jiang, editors
Edizione [First edition.]
Pubbl/distr/stampa Singapore : , : Springer, , [2023]
Descrizione fisica 1 online resource (417 pages)
Disciplina 543.08586
Collana Springer Series in Astrophysics and Cosmology Series
Soggetto topico X-ray spectroscopy
ISBN 981-9944-09-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Part I: Instrumentation and data analysis -- 1. History, present and future of high-resolution X-ray spectroscopy -- 2. X-ray Diffraction Grating Spectrometers -- 3. XMM-Newton grating -- - Introduction to RGS -- - Data reduction for RGS data -- 4. Chandra grating -- - Introduction to LETG/HETG -- - Data reduction for Chandra data -- 5. High-resolution grating spectral analysis -- - Statistics and spectral grouping -- - Line search -- - Spectral analysis with SPEX -- 6. Micro-calorimeters with transition edge sensors -- 7. Hitomi micro-calorimeter -- - Introduction to the micro-calorimeter on Hitomi -- - Data reduction for SXT data -- 8. High-resolution spectral analysis of Hitomi data -- Part II: Science -- 9. Overview of astrophysical plasmas -- 10. Clusters of galaxies -- 11. Active galactic nuclei -- 12. Circumgalactic and intergalactic medium -- 13. Solar wind and charge exchange -- 14. Galactic black hole X-ray binaries -- 15. Supernova remnants -- 16. Galactic cataclysmic variables -- 17. Dynamics of gas and plasma in cool and hot stars.
Record Nr. UNINA-9910743685103321
Singapore : , : Springer, , [2023]
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