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2009 IEEE Autotestcon : 14-17 September 2009
| 2009 IEEE Autotestcon : 14-17 September 2009 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (464 pages) |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Maintainability (Engineering) Testing - Data processing |
| ISBN |
1-5090-7196-2
1-4244-4981-2 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996206453103316 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
| Materiale a stampa | ||
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2009 IEEE Autotestcon : 14-17 September 2009
| 2009 IEEE Autotestcon : 14-17 September 2009 |
| Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (464 pages) |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Maintainability (Engineering) Testing - Data processing |
| ISBN |
1-5090-7196-2
1-4244-4981-2 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910138788203321 |
| New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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2010 IEEE Autotestcon
| 2010 IEEE Autotestcon |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina | 620.0044 |
| Soggetto topico |
Automatic test equipment
Testing - Data processing |
| ISBN |
9781424479610
1424479614 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910140945603321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2010 | ||
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Computer Automation of Materials Testing
| Computer Automation of Materials Testing |
| Autore | Wonsiewicz B. C |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1980 |
| Descrizione fisica | 1 online resource ([8], 224 pages) |
| Disciplina | 620.110287 |
| Collana | ASTM STP 710 |
| Soggetto topico | Testing - Data processing |
| ISBN |
9780803147782
0803147783 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910164743003321 |
Wonsiewicz B. C
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| [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1980 | ||
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IEEE Std 1671.6-2015 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / IEEE
| IEEE Std 1671.6-2015 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 34 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.1 |
| Soggetto topico | Testing - Data processing |
| ISBN | 0-7381-9624-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
| Record Nr. | UNINA-9910135873603321 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEEE Std 1671.6-2015 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / IEEE
| IEEE Std 1671.6-2015 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / IEEE |
| Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
| Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 34 pages) : illustrations |
| Disciplina | 620.1 |
| Soggetto topico | Testing - Data processing |
| ISBN | 0-7381-9624-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
| Record Nr. | UNISA-996278284103316 |
| New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 | ||
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Symposium on Impact Testing
| Symposium on Impact Testing |
| Autore | Tatnall F |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1956 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 620.112 |
| Soggetto topico |
Strength of materials
Testing - Data processing |
| ISBN | 0-8031-6912-4 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910164751503321 |
|
Tatnall F
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| [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1956 | ||
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