2009 IEEE Autotestcon : 14-17 September 2009 |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
Descrizione fisica | 1 online resource (464 pages) |
Soggetto topico |
Automatic test equipment
Maintainability (Engineering) Testing - Data processing |
ISBN |
1-5090-7196-2
1-4244-4981-2 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNISA-996206453103316 |
New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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2009 IEEE Autotestcon : 14-17 September 2009 |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2009 |
Descrizione fisica | 1 online resource (464 pages) |
Soggetto topico |
Automatic test equipment
Maintainability (Engineering) Testing - Data processing |
ISBN |
1-5090-7196-2
1-4244-4981-2 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910138788203321 |
New York : , : IEEE, , 2009 | ||
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Computer Automation of Materials Testing |
Autore | Wonsiewicz B. C |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1980 |
Descrizione fisica | 1 online resource ([8], 224 pages) |
Disciplina | 620.110287 |
Collana | ASTM STP 710 |
Soggetto topico | Testing - Data processing |
ISBN | 0-8031-4778-3 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910164743003321 |
Wonsiewicz B. C | ||
[Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1980 | ||
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IEEE Std 1671.6-2015 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / IEEE |
Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 34 pages) : illustrations |
Disciplina | 620.1 |
Soggetto topico | Testing - Data processing |
ISBN | 0-7381-9624-X |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
Record Nr. | UNINA-9910135873603321 |
New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 | ||
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IEEE Std 1671.6-2015 : IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description / / IEEE |
Edizione | [(Revision of IEEE Std 1671.6-2008).] |
Pubbl/distr/stampa | New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 |
Descrizione fisica | 1 online resource (viii, 34 pages) : illustrations |
Disciplina | 620.1 |
Soggetto topico | Testing - Data processing |
ISBN | 0-7381-9624-X |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti |
1671.6-2015 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language
IEEE Std 1671.6-2015 (Revision of IEEE Std 1671.6-2008): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.6-2015 |
Record Nr. | UNISA-996278284103316 |
New York, N.Y. : , : IEEE, , 2015 | ||
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Symposium on Impact Testing |
Autore | Tatnall F |
Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1956 |
Descrizione fisica | 1 online resource |
Disciplina | 620.112 |
Soggetto topico |
Strength of materials
Testing - Data processing |
ISBN | 0-8031-6912-4 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910164751503321 |
Tatnall F | ||
[Place of publication not identified], : American Society for Testing & Materials, 1956 | ||
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