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Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research / Y.Watanabe...(et al.) (Eds.)
Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research / Y.Watanabe...(et al.) (Eds.)
Pubbl/distr/stampa Berlin : Springer-Verlag, copyr. 2002
Descrizione fisica XI,306 p. : ill. ; 20 cm
Disciplina 621.38
Collana Lecture Notes In Physics
Soggetto topico Spettroscopia elettronica
Microscopia elettronica
Semiconduttori
ISBN 3-540-43312-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990001145520203316
Berlin : Springer-Verlag, copyr. 2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications / edited by H. Bubert and H. Jenett
Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications / edited by H. Bubert and H. Jenett
Pubbl/distr/stampa Weinheim : J. Wiley & Sons, 2002
Descrizione fisica XVII, 336 p. ; 24 cm.
Disciplina 530.417
Soggetto topico Film sottili - Superficie - Analisi
Analisi spettroscopica
Spettroscopia elettronica
ISBN 3-527-30458-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISA-990002409750203316
Weinheim : J. Wiley & Sons, 2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications / edited by H. Bubert and H. Jenett
Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications / edited by H. Bubert and H. Jenett
Pubbl/distr/stampa Weinheim, : Wiley-VCH, c2002
Descrizione fisica XVII, 336 p. : ill., tab. ; 25 cm.
Disciplina 620.44
Soggetto topico Film sottili
Spettroscopia elettronica
ISBN 3527304584
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-MIL0556156
Weinheim, : Wiley-VCH, c2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino
Opac: Controlla la disponibilità qui